JK2000X系列 晶體管電性測試系統
關鍵詞：靜態參數以及IV曲線、MOS管測試儀
產品描述：是由我公司技術團隊結合半導體功率器件測試的多年經驗，以及眾多國內外測試系統產品的熟悉了解后，完全自主開發設計的全新一代“晶體管電性測試系統”。軟件及硬件均由團隊自主完成。這就決定了這款產品的功能性和可靠性能夠得到持續完善和不斷的提升。能測很多電子元器件靜態參數以及IV曲線掃描如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，繼電器，穩壓器
